芯片測試數據實時分(fēn)析系統 TDAS

2022-03-24
浏覽次數:
返回列表

圖片4.png

具備對集成電(diàn)路芯片測試數據的實時采集、解析與分(fēn)析功能,打破國外(wài)對此類軟件的壟斷,滿足國内外(wài)行業高端客戶的需求。

    測試數據分(fēn)析,對于無論是工(gōng)廠還是設計公司,無論是晶圓廠還是封測廠,無論是CP還是FT,無論是PE還是TE,都是發現問題的一(yī)個重要手段。

    該系統通過測試數據的實時傳輸,實時分(fēn)析,讓用戶第一(yī)時間能掌握測試數據的準确性,完整性,對于測試中(zhōng)産生(shēng)的問題可以第一(yī)時間進行處理。


搜索